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XP205DR分析天平
XP205DR分析天平產品特點：
最大限度地減少靜電荷
我們的 StaticDetect 靜電檢測技術可檢測樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯誤超過用戶定義的限值，則出現警告；然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性，可鎖定稱量結果的發布。
用戶引導過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數據處理、計算和報告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實現??過程安全性和可追溯性要求，并支持您實現無紙化實驗室。
結果可靠
超越系列分析天平將獲得專利的梅特勒-托利多稱量技術與數十年的稱量專業知識相結合，確保您快速、可靠地獲得最佳的稱量結果！
無需接觸天平的操作
超越系列分析天平采用人體工程學設計，旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應器可使您揮一下手即可進行操作，使稱量任務更加輕松，避免交叉污染問題（例如：打開/關閉防風罩門）。
易于清潔
憑借獨特的網格秤盤和可在數秒鐘內拆卸的防風罩，始終確保稱量區域清潔、安全。
XP205DR分析天平技術參數：
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型號 |
XP205DR分析天平 |
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最大稱量值 |
220g |
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精細量程的最大稱量值 |
81g |
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可讀性 |
0.1mg |
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精細量程的可讀性 |
0.01mg |
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重復性：正常加載(sd) |
0.06mg（200g） |
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重復性：微量加載 |
0.05mg（10g） |
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重復性：精細量程微量加載 |
0.015mg（10g） |
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線性 |
0.15mg |
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四角誤差 |
0.25mg（100g） |
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靈敏度漂移 |
2.5x10-6 |
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靈敏度溫度漂移（10-30°C） |
1x10-6/°C |
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接口更新速率 |
23/s |
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天平外型尺寸 |
(W×D×H mm)263×486.5×322 |
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秤盤尺寸(W×D mm) |
76×73 |
公司簡介：
上海旦鼎（m.168788.cn）國際化一站式采購平臺，運行商為上海旦鼎國際貿易有限公司，坐落于上海繁華的金橋國際商務區。本公司以公平的價格體系向客戶平價銷售實驗室科研設備、施工現場監測設備、生物器材、耗材試劑等產品。上海旦鼎國際貿易有限公司實力雄厚，重信用、守合同、保證產品質量，以多品種經營特色和薄利多銷的原則，贏得了廣大客戶的信任。